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采用辉光放电质谱法,直接测定高纯Hf中的痕量元素。通过对仪器调谐,优化了工作参数,并对测试过程中产生的多原子离子干扰进行仔细考察,得到较为理想的测试结果。当元素含量在ug/g水平时,测量的相对标准偏差（RSD）小于10%。
辉光放电质谱法测定高纯铪中的痕量元素
【摘 要】
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采用辉光放电质谱法,直接测定高纯Hf中的痕量元素。通过对仪器调谐,优化了工作参数,并对测试过程中产生的多原子离子干扰进行仔细考察,得到较为理想的测试结果。当元素含量在
【机 构】
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中国科学院福建物质结构研究所,福建农林大学材料工程学院
【出 处】
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福建分析测试
【发表日期】
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2016年3期
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