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本文介绍了对ＭＣＳ－５１系列单片机进行测试所采用的理论和算法。我们对单片机的测试分为两个阶段。第一阶段称为初测阶段，采用从大开始法，在这一阶段测试出故障的芯片就被淘汰了，不再进行严格的测试。第二阶段称为详测阶段，这一阶段采用结构与功能兼测法，试图把故障定位于寄存器一级。这一阶段，首先按单片机的总结结构框图进行模块划分，再根据系统图理论，对每一模块建立其故障模型，结合从小开始法和最小指令覆盖法给出测