【摘 要】
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通过将闪烁体光纤面板与CMOS图像传感器耦合,研制了在线诊断X射线图像的CMOS探测系统.通过XOP软件计算,确定了响应能区为1～10keV的CsI闪烁体厚度为30μm.在微点X射线源平台上,
【机 构】
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中国工程物理研究院激光聚变研究中心
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通过将闪烁体光纤面板与CMOS图像传感器耦合,研制了在线诊断X射线图像的CMOS探测系统.通过XOP软件计算,确定了响应能区为1～10keV的CsI闪烁体厚度为30μm.在微点X射线源平台上,基于标准的Typ18-d型分辨率板对CMOS探测系统的空间分辨能力进行了实验测试,结果为60μm.在神光Ⅲ原型激光装置上,利用该套CMOS探测系统在流体力学不稳定性与混合实验中对钛背光源的光谱进行了诊断,获得了清晰的类氢和类氦光谱图像.数据分析显示,实测的谱分辨为442,与理论分析符合较好.CMOS探测系统小巧轻便,
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