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基于Labview的位移测量系统以其使用操作方便,测量分辨率高等优点,在位移测量领域应用广泛。介绍了一种基于Labview的位移测量系统的实现。系统基于Labview软件平台开发,通过串口实现数据交互,并对测量工件的尺寸加工精度进行了分析。测量系统通过对光栅尺输出的信号进行细分辨相,提高位移测量精度,使用MSP430对细分后的信号进行处理。系统整体实现了对X-Y工作台上X方向的位移测量,并将测量结果返回至上位机,上位机系统通过专用工具包与Access数据库连接,实现对批量测量数据的存储和管理。实验表