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针对测试性设计要求,基于IEEE1149.4标准,利用相关性模型对某控制盒的混合电路系统进行测试性分析与建模,建立被测系统各组成单元与边界扫描测试之间的相关性矩阵,得到优化的边界扫描器件置换与边界扫描结构置入方法.通过制定相应的诊断策略,给出一种通用的混合信号电子系统BIT设计方案.系统验证实验表明,该方法测试迅速,可以有效地提高电子系统测试性.