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设计了一种新的全息干涉光路,在一次爆破加载中获得不同时刻的动态离面位移场(即质点垂直振幅)条纹图,并以此研究了条形药包爆破时不同剖面的位移变化规律,研究表明:条形药包中垂线上的离面位移极值均为P波引起,并在爆破后的任意时刻至少大于全场其他剖面位移极值的3倍以上;其余方向的位移极值由瑞利波产生,药包轴线方向位移显示出明显的端部效应;因此,该方法对爆破模型位移场研究具有重要的意义.