【摘 要】
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用于8～12um波段的HgCdTe光电探测器焦平面阵列的性能受到阵列中各探测器单元的非均匀性的限制.如果大量像元探测器的阵列要达到小的等效噪声温差（NETD）,这种非均匀性必须在阵列
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用于8～12um波段的HgCdTe光电探测器焦平面阵列的性能受到阵列中各探测器单元的非均匀性的限制.如果大量像元探测器的阵列要达到小的等效噪声温差（NETD）,这种非均匀性必须在阵列的制造或通过校正每个单元探测器输出的补偿中降低.本文通过对光电二极管的性能分析,可知,如果探测器阵列非均匀性的主要来源是诸如探测器面积的不同所引起的,用线性二点校正方案来补偿,是个非常好的方法.如果是阵列单元的光谱带宽变化,则非线性还要留下残余量.
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