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为了研究锑化铟（InSb）半导体材料的光电导太赫兹辐射过程，推导了太赫兹近场辐射公式。在考虑俄歇弛豫机制对光电导过程影响的情况下，分析了InSb光生载流子浓度、载流子散射率以及光电导表面反射率随时间的变化。结果表明，数值模拟与文献中的实验曲线变化趋势一致，计算结果吻合，证明了该研究方法的正确性。