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为了实现T/R组件测试系统波束控制的通用性,提出了一种基于PCIe总线的可编程模块化的波控技术。该技术应用到测试系统里可对不同类型的T/R组件进行灵活控制,模拟相控阵波束扫描方式进行性能测试,可有效地提高T/R组件的测试效率和覆盖率。
T/R组件测试系统的波控技术研究与实现
【摘 要】
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为了实现T/R组件测试系统波束控制的通用性,提出了一种基于PCIe总线的可编程模块化的波控技术。该技术应用到测试系统里可对不同类型的T/R组件进行灵活控制,模拟相控阵波束扫
【机 构】
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南京电子器件研究所
【出 处】
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现代信息科技
【发表日期】
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2019年16期
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