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目的探讨危重症昏迷儿的糖代谢和胰岛素抵抗因素.方法对12例不同病因的昏迷患儿,用氧化酶法进行口服葡萄糖耐量试验和放射免疫分析法进行胰岛素释放试验的检测.结果 12例昏迷患儿中10例口服葡萄糖耐量试验(OGTT)异常,胰岛素释放试验(IRT)高峰有4例发生于60min以后,OGTT与IRT存在平行关系,OGTT异常与昏迷患儿的预后存在相关性(P＜0.05),而与昏迷的深浅程度无关(P＞0.05).结论昏迷患儿存在糖代谢的紊乱和胰岛素抵抗因素.