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通过保持一定钎焊温度，改变钎焊时间得到不同反应层厚度的ＡＩ２Ｏ３／ＡｇＣｕＴｉ界面。结合扫描电镜（ＳＥＭ）和力学试验结果，分析了反应层厚度对ＡＩ２Ｏ３／ＡｇＣｕＴｉ／Ｔｉ－６ＡＩ－４Ｖ接头强度的影响。结果表明：厚度为１．５μｍ时，接头强度达到最大值１２５ＭＰａ；厚度小于１μｍ，剪切试样沿反应层和ＡＩ２Ｏ３陶瓷界面断裂；大于３μｍ，沿反应层断裂，反应层厚度较薄时，接头强度取决盱界面强度和残余应力的大小；反应层厚度较厚时，接头强度取决于反应层自身强度和残余应力的大小。