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用磁控溅射法分别在玻璃基底和硅片上沉积Tbx（Fe85Co15）100-x（x=24．7，40．8，厚-20nm）薄膜和Fe51Pt49（8nm）／Tb~（Fe85Co15）100x（～70nm）双层薄膜，研究了非晶TbFeCo薄膜中富FeCo晶粒的存在对薄膜磁特性的影响。使用磁光克尔效应（MOKE）和振动样品磁强计（VSM）测量样品的磁滞回线，观察到单层TbFeCo薄膜及FePt／TbFeCo双层薄膜中由于富FeCo晶粒的存在导致的磁化反转相分离的特征，并通过测量FePt／TbFeCo双层薄膜的小回线进