【摘 要】
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利用Sentaurus TCAD软件模拟研究了Halo注入工艺参数（注入角度、剂量、能量）对50nm NMOS器件性能的影响。结果表明,Halo注入角度和剂量的增大会使器件的DIBL特性改善,阈值电压
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利用Sentaurus TCAD软件模拟研究了Halo注入工艺参数（注入角度、剂量、能量）对50nm NMOS器件性能的影响。结果表明,Halo注入角度和剂量的增大会使器件的DIBL特性改善,阈值电压提高;而Halo注入能量的增加会引起器件的DIBL特性变差,阈值电压有所降低,并且较注入角度和注入剂量相比,Halo注入能量的工艺窗口要小。Halo注入参数的变化对Ion和Ioff的影响不同,所以器件开关比随Halo注入角度、剂量和能量的增加呈现非单调性改变。器件的结电容则随Halo注入角度增大而下降,随注入
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