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对3μm厚Ti膜的中子反射率谱进行理论计算，得到了Ti膜在不同含氘量（TiDc，c=0.5、1.0、1.5和2.0）、表面是否氧化下的反射率谱。数据表明，用中子反射技术可以获取含氘量和表面氧化程度等信息。同时，根据需测量的膜层最大厚度，对反射谱仪部分参数提出了要求。
贮氢钛膜氢含量的中子反射分析方法设计
【摘 要】
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对3μm厚Ti膜的中子反射率谱进行理论计算，得到了Ti膜在不同含氘量（TiDc，c=0.5、1.0、1.5和2.0）、表面是否氧化下的反射率谱。数据表明，用中子反射技术可以获取含氘量和表面氧化程
【机 构】
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中国工程物理研究院核物理与化学研究所
【出 处】
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原子与分子物理学报
【发表日期】
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2008年5期
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