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改进了二种组合电路设计错误诊断DED（Design Error Diagnosis）算法。它使用多可满足性问题（SAT）求解技术，通过对布尔可满足解计数来实现对多个逻辑错误的诊断定位。改进了电路诊断架构，新架构的合取范武表述所使用的变量和子句数目大为减少；通过多种启发武方法，避免了不必要的操作，使算法在时间和内存上保持有效性。