基于频率响应的数控机床伺服性能优化

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基于频率响应测试方法,对数控机床伺服参数优化策略进行了研究。根据机床伺服控制器结构,结合控制过程,提出电流环、速度环及位置环在不同参数下的调试方案。从频率响应Bode图考察伺服性能,表明优化策略具有通用性,能够准确反应伺服系统的闭环带宽及机械谐振频率等信息,为准确设定伺服控制参数奠定基础。
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