正则高阶微分系统带权第二特征值的上界

来源 :苏州市职业大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:A75395100
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考虑正则高阶微分系统带权第二特征值的上界估计.利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关.其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用.
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