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随着集成电路技术的飞速发展以及SOC系统的出现,电路的测试难度在不断增大,严重制约了SOC技术的发展,文中从SOC可测性设计出发全面介绍IEEE P1500,通过研究对比当前适用于SOC领域的测试方法,着重讨论了其在SOC测试方面应用的优点和不足.
基于SOC测试的IEEE P1500
【摘 要】
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随着集成电路技术的飞速发展以及SOC系统的出现,电路的测试难度在不断增大,严重制约了SOC技术的发展,文中从SOC可测性设计出发全面介绍IEEE P1500,通过研究对比当前适用于SOC
【机 构】
：
上海大学
【出 处】
：
微计算机信息
【发表日期】
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2005年06Z期
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