【摘 要】
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与普通绝缘子相比,高梯度绝缘子（HGI）的金属层与绝缘介质层交替排列结构可以抑制真空沿面闪络过程,从而提高沿面闪络场强.使用不同绝缘介质材料和金属材料采用不同加工制备工艺
【机 构】
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中国工程物理研究院流体物理研究所,中国工程物理研究院脉冲功率科学与技术重点实验室
【基金项目】
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国防科技工业局核能开发项目,国家自然科学基金重点项目（11035004）
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与普通绝缘子相比,高梯度绝缘子（HGI）的金属层与绝缘介质层交替排列结构可以抑制真空沿面闪络过程,从而提高沿面闪络场强.使用不同绝缘介质材料和金属材料采用不同加工制备工艺制备的HGI样品其沿面闪络场强差别较大.对所制备的绝缘介质层分别为聚酰亚胺、交联聚苯乙烯和尼龙,金属层为不锈钢箔,形状分别为圆柱与圆环型的HGI样品进行了真空沿面耐压测试,并对相同尺寸的纯绝缘介质样品进行了对照实验,得到了不同材料不同制备工艺HGI样品的耐压性能差异.结合样品表面显微照片观察得到的样品表面状况,分析了影响样品沿面闪络场强的
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