超薄膜生长过程中分形凝聚体的计算机模拟

来源 :光学仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yl198710310318
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
利用计算机模拟了超薄膜中分形凝胶聚体的生长,考虑了薄膜生长过程中的团簇扩散和旋转。开始的团簇生长采用不同允许扩散步长下准圆形团状生长的分子动力学模型,研究了基底上分形凝聚体中团簇的扩散和旋转对表面形貌的影响,引进了团簇的扩散和旋转因子。结果表明:初始的小团簇经过无规则的扩散和旋转逐渐凝聚成具有分支状的凝聚体。团簇的旋转对分形结构的维数值没有太大的影响。
其他文献
介绍了一种针对EAN-13码,UPC-A码的具有纠错功能的解码方法,该方法在采用基于紧一化宽度的查表译码方法的基础上,利用条码等字符的奇偶排列特性和校验位特性进行纠错,有效地降低了条码识读器
描写了一种新型的CCD摄像头-计算机系统,它可以在镀膜基板激光测温的过程中跟踪光斑中心,从而测出移过光斑中心的干涉条纹数,达到镀膜基板激光测温自动化的目的。
叙述了使用溶胶-凝胶法在Si(001)基片上制备不同厚度的铁电铌酸锶钡薄膜的过程,使用X射线衍射,扫描电子显微镜,拉曼散射光谱等方法研究薄膜的微结构与薄膜厚度之间的关系,薄膜的厚
介绍了宽波段宽角宽偏振分束器,对膜系设计制备和测试结果作了简要的分析讨论。
叙述STM(扫描隧道显微镜)和AFM(原子力显微镜)的主要关键技术和研制情况。在研制的STM和AFM样机上,对1200l/mm光栅进行测量,得出本样机的测量重复性可达10%以内。对研制的样机进行分析和对比后提出:STM和AFM,尤其是
概述激铫测温技术在光学薄膜制备中的应用及其在自动化方面的新进展。
基于分光测色原理,采用双光路光学系统及最新阵列探测器接收系统,实现了快速、准确地光谱数据采集;同时利用库贝尔卡-芒克函数完成了计算机配色预测与处方设计。
论述了微型低温远红外带通滤光片的设计和研制。介绍了该滤光片不同于一般远红外滤光片的研制工艺。测试出了低温下该滤光片中心波长漂移参数,并给出和分析了校准后的测试结果
详细分析了压电扫描器的机械特性,及其对扫描特性的影响,通过调整输入波形的形式来修正压电扫描器的扫描畸变,从而达到计算机控制压电扫描器扫描的高精度和可控性。压电扫描器的
通过计算机模拟多半滤光片的膜层控厚过程,分析不同的过正极值方法和过正参数对滤光片光学技术指标和监控成功率的影响。结果表明,过正极值方法有效地抑制了监控信号随机噪声的