论文部分内容阅读
本文针对复杂的磁偏转线圈实体,提出了一个简单的模型,使得对实际偏转线圈结构的测量和数值模拟都较为简单.利用该模型,对实际14″彩色显像管(CRT)的偏转线圈绕线结构进行了测量,在此基础上对该偏转线圈所产生的偏转磁场、光栅畸变和会聚误差进行了数值模型.计算所得结果与测量值相比,光栅畸变的最大误差为0.84%,会聚误差的最大误差为0.61 mm.