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本实验将弱信号检测放大技术应用于反射起偏法,使其成为折射的高精度测量方法,为梯度介质光学常数测量提供了一个简捷准确的途径,但仍属破坏法.
梯度介质光学常数的反射起偏法测量
【摘 要】
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本实验将弱信号检测放大技术应用于反射起偏法,使其成为折射的高精度测量方法,为梯度介质光学常数测量提供了一个简捷准确的途径,但仍属破坏法.
【机 构】
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中国科学院西安光学精密机械研究所西北大学物理系
【出 处】
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光学学报
【发表日期】
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1989年9期
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