6H—SiC埋沟NMOSFET耗尽模式的电流特性分析

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在考虑杂质不完全离化的作用下,建立了6H—SiC埋沟NMOSFET耗尽模式下的电流解析模型。并通过模型,仿真分析了器件电流随温度的变化情况。在温度达到600k以上时,杂质的不完全离化作用对器件的影响不明显。常温下电流特性模型的仿真结果与实验结果的一致性,说明了本模型的准确性。
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