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实际应用中的薄膜或多或少存在体折射率不均匀缺陷，其准确表征对于镀膜工艺参数调校、低损耗薄膜设计与制备分析等具有影响。从Schroder近似出发，推导了体折射率弱不均匀薄膜的膜系特征矩阵，通过特征矩阵法推广，建立了体折射率弱不均匀多层膜光谱特性计算的近似模型。利用基于有效介质理论的多层均匀膜近似方法，讨论了上述近似模型的有效性、计算精度和时间消耗特性。结果表明，上述模型矩阵计算中引入体折射不均匀度这一参数，为多层膜体折射率不均匀缺陷反演提供了一种有效的手段，为基于宽带光谱测量数据拟合的膜层缺陷数值反演应用奠