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研究了不同等静压力下的PMN—PT单晶的介电常数（εr）与温度（T）的关系，以及常温下介电常数（εr）及损耗（tand）与压力（p）之间的关系。发现了PMN—PT单晶在压力作用下出现明显的介电频率弥散现象。当等静压力增大到一定压力时，PMN—PT单晶的介电常数值迅速降低，介电频率弥散更加显著，且出现弛豫特性，介电损耗的弛豫特征更加明显。随着频率的增加，介电损耗峰对应的峰值压力向高压方向移动。其根本原因是压力诱导的介电-压力弛豫特性导致的。