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领先的RFIC低成本测试方案
领先的RFIC低成本测试方案
来源 :中国集成电路 | 被引量 : 2次 | 上传用户:yhmlivefor52
【摘 要】
:
主流RFIC的高频率,高带宽,多射频端口的特点对现在的RFATE系统构成了不小的挑战,以模块化架构为基础的RFATE架构凭借丰富的射频端口资源、高效的并行测试构架、人性化的操作界面,以及先进的测试板为复杂RFIC提供了低成本测试解决方案。
【作 者】
:
孙亚春
【机 构】
:
深圳集成电路设计产业化基地管理中心
【出 处】
:
中国集成电路
【发表日期】
:
2010年02期
【关键词】
:
无线通信
集成电路
系统架构
测试方法
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主流RFIC的高频率,高带宽,多射频端口的特点对现在的RFATE系统构成了不小的挑战,以模块化架构为基础的RFATE架构凭借丰富的射频端口资源、高效的并行测试构架、人性化的操作界面,以及先进的测试板为复杂RFIC提供了低成本测试解决方案。
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