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介绍了一款自主研发的基于Chartered0．35μm CMOS工艺的用于三相交流调压和可控整流的可控硅控制器芯片。基于Chroma公司3360D测试台（ATE）对封装后芯片进行了测试，并详细阐述了Dc、AC、DFT、功能测试等的测试方法，芯片测试良率达到94．7％。最后，通过现场板级验证，进一步验证了芯片工作的有效性。