为了探索稻秸表面硅物质的分布和超微构造,该文以稻秸各皮层的硅物质作为研究对象,采用扫描电子显微镜-能谱分析（scanning electric microscopy coupled with energy-dispersive spectroscopy,SEM-EDS）和X射线衍射仪（X-ray diffraction,XRD）探讨稻秸各皮层硅物质的分布及构造。SEM-EDS研究表明,硅物质主要分布在叶鞘、茎秆的外层,且叶鞘中硅物质的含量高于茎秆。叶鞘外层的硅物质主要以小颗粒物存在、夹杂少量大颗粒物和毛状物。茎秆外层硅物质分布更为均匀,大颗粒物和毛状物进一步减少。叶鞘和茎秆小颗粒物均呈哑铃状规律出现,小颗粒物的粒径约为1μm。XRD研究显示,稻秸的叶鞘、茎秆、节和穗呈现纤维素I型的晶型结构,其结晶度分别为叶鞘55.3%,茎秆59.0%,节47.8%,穗57.4%,内含晶体尺寸约为叶鞘2.10 nm,茎秆2.13 nm,节1.36 nm,穗2.22 nm。稻秸各组织中提取的Si O₂均呈现非晶态特征。研究结果为仿照稻秸纤维-Si O₂结构,诱导纳米无机材料沉积在有机质表面,并且调控纳米颗粒在生长过程中的粒径和形态具有积极的意义。