面向可靠性问题的星载电子产品研制试验研究

来源 :质量与可靠性 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yangying_han
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对星载电子产品可靠性现状及其面临的可靠性问题进行了分析,提出在产品研制初期实施基于流程驱动的研制试验,针对薄弱环节或技术风险开展器件级、模块级和整机级试验,实施TAAF改进,为打造高可靠性星载电子产品服务。
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