162~1200keV能区^174Hf中子俘获截面的测量

来源 :四川大学学报(自然科学版) | 被引量 : 0次 | 上传用户:wq52131
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作者用活化法相对于Au的中子俘获截面,测量了162~1200keV能区174Hf(n,γ)175Hf的反应截面,测量误差为6.1%~7.2%,在现有文献中还未见有关该反应截面的测量数据.
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