磷酸盐电解液体系下,以CeO2作为电解液添加剂,采用恒压模式对氢化锆(ZrHL8)表面进行微弧氧化(MAO)处理,研究正向电压对陶瓷层厚度、相结构、形貌,结合力以及阻氢渗透性能的影响.利用扫描电镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、涂层测厚仪、涂层划痕仪,分别分析了陶瓷层的表面和截面形貌、相结构、陶瓷层厚度以及膜层与基体的结合力,通过真空脱氢实验评价陶瓷层的阻氢性能.结果 表明:随着正向电压的增加,氢化锆表面微弧氧化陶瓷层的厚度逐渐增加,当正向电压为375 V时陶瓷层的阻氢性能较好,氢渗透降低因子PRF值可达到14.2;正向电压的改变对陶瓷层的相结构没有明显影响,膜层主要由单斜相氧化锆(m-ZrO2)、四方相氧化锆(t-ZrO2)和立方相氧化铈(c-CeO2)组成,且以单斜相氧化锆(m-ZrO2)为主.