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物体微小位移的测量中方法甚多，但非接触及多维测量则具有更好前景．以图像处理为基础的测量技术具有广阔应用的空间，但图像处理中数据量较大，实时性是一较难解决的问题．以SOPC技术及图像处理技术为基础，对物体亚微米级的二维平移进行测量，在保证测量过程的非接触、实时、小体积、精度高的要求前提下，较好解决了实时测量这一问题．