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随机存储器在电子装备中广泛使用，对其进行有效测试是电子装备自测试与生产功能测试的主要内容。以走一测试算法为基础，设计了数据线、地址线与存储单元测试方法，可以有效检测各种类型的RAM焊接质量与器件质量，对于提高故障定位精度和减少产品的测试时间起重要作用，特别是在电子装备的自测试、生产测试和维护测试中具有很好的应用前景。