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介绍了北京谱仪(BES)μ子计数器的结构,分析了μ子计数器z向位置分辨变坏的主要因素. 通过研究μ子计数器离线数据刻度基本原理和刻度方法,采用新的刻度方法解决了μ子计数器z向位置分辨变坏的问题. 使μ子计数器z向位置分辨提高了20%.
北京谱仪μ子计数器离线数据刻度研究
【摘 要】
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介绍了北京谱仪(BES)μ子计数器的结构,分析了μ子计数器z向位置分辨变坏的主要因素. 通过研究μ子计数器离线数据刻度基本原理和刻度方法,采用新的刻度方法解决了μ子计数器
【机 构】
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中国科学院高能物理研究所
【出 处】
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高能物理与核物理
【发表日期】
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2004年期
【基金项目】
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国家自然科学基金;
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