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研究了光学变条长实验中条的宽度对半导体激光器光增益测量的影响，提出利用光刻溅射处理样品来严格控制泵浦条的宽度，并详细研究了泵浦条宽度与样品增益及饱和长度关系。实验表明：泵浦条宽度越窄，饱和长度越长，但测得的增益系数有所减小。本文利用非平衡载流子扩散模型对此现象进行了解释。
变条长实验测量GaN增益时条宽的影响
【摘 要】
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研究了光学变条长实验中条的宽度对半导体激光器光增益测量的影响，提出利用光刻溅射处理样品来严格控制泵浦条的宽度，并详细研究了泵浦条宽度与样品增益及饱和长度关系。实验表
【机 构】
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北京大学物理学院
【出 处】
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发光学报
【发表日期】
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2010年1期
【基金项目】
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国家“863”计划（2007AA032403）,国家自然科学基金（60776042）,国家重大科学研究计划（2009CB930504）资助项目
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