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界面结构对触头可靠性影响的研究
界面结构对触头可靠性影响的研究
来源 :电工材料 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lanshangliujing
【摘 要】
:
以CuW-CuCr触头为研究对象,采用模拟仿真计算了CuW-CuCr触头不同界面结构时其界面的受力情况,同时验证了不同界面结构的触头的界面强度。结果表明,触头的CuW部分与CuCr界面的
【作 者】
:
吴明星
周芳
曹伟产
马朋涛
【机 构】
:
西安西电开关电气有限公司
【出 处】
:
电工材料
【发表日期】
:
2018年4期
【关键词】
:
CuW合金
触头
强度
断口
CuW alloys
contactors
intensity
fracture
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以CuW-CuCr触头为研究对象,采用模拟仿真计算了CuW-CuCr触头不同界面结构时其界面的受力情况,同时验证了不同界面结构的触头的界面强度。结果表明,触头的CuW部分与CuCr界面的结合形式直接决定着界面处受力的大小,可以通过改变界面处的结合结构来改变界面处的受力。
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