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微处理器的应用领域越来越广泛。由于应用环境的复杂，微处理器面临的各种干扰日益严重，从而对它的可靠性要求越来越高。针对微处理器最常见的故障源——单粒子翻转效应，本文分析了常用的三模冗余（TMR）技术，并采用了一种新的冗余技术——时空三模冗余技术（ST-TMR）对8051微处理器中的系统管理单元进行加固。最后，对其可靠性进行了测试与分析。