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IDDQ测试是一种新的集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值，它可以有效地检测出早期失效器件。介绍了一种新型的IDDQ开路和短路测试方法；利用模拟开关和简单的电流源并利用带A／D模块的MCU组成一个开路和短路测试电路。该方法既节省成本，又能实现简单的智能学习。