论文部分内容阅读
应用扫描电镜和石蜡切片方法,对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析.结果表明：普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布,气孔均分布在叶片下表皮,而矮生型蜡质层更厚.普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42μm×19.39μm和29.52μm×16.85μm,气孔平均长×宽分别为17.73μm×5.37μm和20.59μm×4.07μm;普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99μm,栅栏组织厚度平均值分