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利用X射线衍射的Rietveld全谱拟合方法,测定4A分子筛的晶胞参数和结晶度,Rietveld分析的拟合指标R平均值为8.31%,E平均值为1.97%,表明用全谱拟合计算分子筛的晶胞参数和结晶度是十分有效的.计算出所测试的4A分子筛的晶胞参数为12.305?,结晶度为88.1%.
Rietveld全谱拟合法测定A型分子筛的晶胞参数和结晶度
【摘 要】
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利用X射线衍射的Rietveld全谱拟合方法,测定4A分子筛的晶胞参数和结晶度,Rietveld分析的拟合指标R平均值为8.31%,E平均值为1.97%,表明用全谱拟合计算分子筛的晶胞参数和结晶
【机 构】
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科迈化工股份有限公司
【出 处】
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装饰装修天地
【发表日期】
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2020年4期
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