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由于现代武器系统复杂化程度不断扩大,使得检测和维修难度增大,比如测试时间变长、维修保障费用增加.为解决这些问题,现代武器系统广泛采用机内测试(Built in Test,简称BIT)技术,以便对其内部故障进行自动检测、诊断和隔离.但是常规BIT面临着诊断能力不足和诊断模糊性,导致BIT虚警率高,难以有效发挥其应有的作用.本文首先初步论述了BIT虚警基本理论、虚警问题影响后果、虚警问题现状;然后从BIT虚警产生原因分析入手提出了解决虚警问题的一些方法和措施,为现代武器系统测试和维修的深入研究打下基础,对BI