论文部分内容阅读
为了研究塞曼效应的谱线分裂情况，用量子理论和CCD图像相结合的方法分析了Hg（546．1nm）谱线在外磁场中的分裂．根据强度分析获得的峰值坐标计算得到电子核质比为1．762×10 ^11C／kg，与公认值的相对误差仅为0．2％，表明用高分辨率CCD观察拍摄塞曼效应的分裂谱线比传统方法更直观方便．进一步结合图像的强度分析，不仅能更好的描述塞曼分裂谱线的细节，而且能获得较为精确的电子荷质比值．