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研究伺服控制器性能优化问题,新型存储系统中数据信息点的密度越来越高,盘片的转速越来越快,现有的PID的循迹伺服控制器已无法满足超高密度存储系统纳米级的循迹精度。由于制造工艺导致的盘片偏心会对循迹误差信号产生周期性的扰动,随着盘片转速的提高,周期扰动会降低激光光头循迹的性能。为了有效地抑制该干扰,达到纳米级的循迹精度,提出了利用Youla全局收敛的自适应循迹伺服控制方法,通过对Youla参数权重函数的优化,提高了控制系统的伺服性能。通过在Matlab/Simulink上进行仿真,验证了自适应控制器具有