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随着高速集成电路的发展,以确保数字系统时间特性正确性为目标的时延测试非常重要.基于通路时故障模型的通路时延测试是时延测试研究的主流.本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述,希望能使读者对时延测试研究有基本的了解.文中阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类,并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法.