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新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是新生儿常见病之一,是由各种围生期因素引起的,临床表现多样,常因缺氧导致内环境紊乱,加重病情影响预后,我院自2005年12月至2006年2月对收治的45例HIE新生儿血气、电解质结果进行分析,发现阴离子间隙（AG）与HIE严重程度有一定的相关性,现报告如下.
阴离子间隙与新生儿缺氧缺血性脑病严重程度的相关性分析
【摘 要】
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新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是新生儿常见病之一,是由各种围生期因素引起的,临床表现多样,常因缺氧导致内环境紊乱,加重病情影响预后,我院自2005年12月至2006年2月对收治的45例H
【机 构】
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河南省信阳市中心医院儿科,河南省信阳市中心医院口腔科
【出 处】
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中国药物与临床
【发表日期】
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2006年10期
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