基于圆拟合的孔系中心坐标高精度检测方法研究

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介绍了一种基于线阵CCD的工件表面孔系中心坐标高精度非接触式测量系统,并详细讨论了根据最小二乘法原理用圆拟合识别孔中心的方法.这种方法解决了测量系统两个方向上分辨率不一致的固有缺陷,同时较好地克服了测量过程中各种干扰因素对检测精度的影响,使圆心识别精度达亚像素级.
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