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针对光学元件表面划痕存在的对比度低、边界模糊等问题,提出一种基于局部熵的表面划痕检测方法。首先利用局部熵算法对光学元件表面缺陷进行分割,然后结合区域填充、断点连接等形态学操作对图像进行处理,从而得到完整连续的划痕区域。实验结果证明,该算法能够有效地识别弱划痕,且在准确性和分割效率方面有明显的优势,可以满足实际应用的需要。