论文部分内容阅读
针对实际项目中光学自动检测仪器高效率、高准确率的要求,单块较大PCBA板需要获取多张图像分别检测,根据图像特点寻找新的mark定位点而提出了一种改进的mark点定位方法。利用遍历法直接定位到最大概率的mark点坐标,并由先验数据计算出坐标点误差,根据可疑mark点坐标和坐标点误差代数和重新规划出新的兴趣区域,进而快速计算出准确的mark点坐标。计算结果表明,此方法能大幅减少冗余计算,新算法与原算法得到的坐标值完全相同,且新算法用时比原算法减少约40%。