进入二十一世纪以来,随着光电技术与光纤通信技术的蓬勃发展,半导体激光器以其功耗低、输出效率高、调制简便等诸多优点已经被广泛的应用于工业、农业、国防、生物医疗等社会生产的众多领域,在建设和推进信息化社会方面起到了重要作用。随着半导体激光器应用越来越广泛以及在光纤通信系统应用中的重要地位,半导体激光器的高可靠性和低成本的期望越来越高,其产品质量好坏与各项性能指标越来越受关注。因此对半导体激光器检测技术的研究显得非常重要。在充分研究了目前半导体激光器特性参数系统的国内外发展现状的基础上,根据半导体二极管的工作原理与特性以及实际生产与应用需要,本论文首先阐述了产品需要达到的功能需求,然后分析了项目的总体设计目标,最后提出了多功能半导体激光器参数测试系统的总体设计方案。方案把整个参数测试系统分为硬件电路设计与软件实现两大部分。硬件电路关键技术设计主要包括主控电路及其接口电路,驱动电流控制,微弱光信号检测和低噪声抗干扰措施。主控电路部分以微处理器LPC2134为核心进行设计,驱动电路设计基于负反馈原理,实现了对驱动电流的稳定控制。微弱光信号检测主要对前置放大电路,增益控制等关键技术进行设计与仿真。噪声分析根据等效噪声模型进行分析并提出了改善措施。下位机软件主要通过流程图的形式,对D/A驱动控制,数据采集,UART通信模块进行分析与介绍,并根据相应算法对阈值参数进行处理；上位机部分以美国微软公司的Visual Studio.NET软件作为开发环境,通过界面实现控制与测试。经过测试证明该系统能很好的显示被测半导体激光器的V-I特性曲线,I-P特性曲线和阈值参数,能精确测量微弱光信号以及对光模块进行数传误码测试,符合设计标准,满足设计要求。