随着TD-LTE技术的迅猛发展,TD-LTE终端性能的逐渐完善,TD-LTE终端即将商用化,现有TD-LTE终端测试仪表已经不能满足TD-LTE终端发展的需要。因此,开发出功能更强大、性能更稳定的TD-LTE终端测试仪表已成为推动TD-LTE终端走向市场,实现商用化的迫切需要。本文针对TD-LTE终端测试仪表不能达到下行峰值速率的问题,首先,系统地对现有TD-LTE终端测试仪表的软硬件架构,以及基于DSP芯片TMS320C6474的C语言和汇编语言的常用优化方法进行分析,其次,在研究3GPP中PDSCH信道处理过程所包含的CRC编码模块、Turbo编码模块、速率匹配编码模块、加扰编码模块和调制编码模块的算法原理基础上,针对各模块算法实现上的不足,提出并实现了针对各模块的基于DSP芯片的快速算法。最后,经过对快速算法优化前后各模块性能的比较分析,验证了各模块基于DSP芯片快速算法的有效性和适用性。文章最后将快速算法优化后的各模块应用于测试仪表,实现了下行峰值速率传输,进一步证明了针对TD-LTE终端测试仪表的快速算法的可行性,为开发出性能更好的TD-LTE终端测试仪表提供了有力的技术保障。